Chroma ATE Inc.

2018
2018
Chroma lance de nouvelles solutions de test au SEMICON Chine pour saisir les opportunités commerciales présentées par les puces pour l'IdO
2018/03/05

Chroma ATE Inc., fournisseur mondial de premier plan d'instruments de test et de mesure de précision ainsi que de solutions de test automatisées clés en main, présentera ses nouvelles solutions de test au SEMICON Chine en mars pour intégrer le marché des puces électroniques pour l'IdO et les véhicules intelligents.

Le Chroma 3680 est un système de test SoC avancé à haute précision et hautes performances doté de 2048 canaux d'E/S avec un débit de données atteignant 1 Gbit/s, 512 unités de test en parallèle au maximum et une profondeur de mémoire de données de test de 512 MW pour répondre aux exigences des tests SoC complexes avec un coût de tests le plus bas possible. Ses applications comprennent les MCU, l'audio numérique, la TV numérique, les décodeurs, les processeurs de signal numérique (DSP), les processeurs en réseau, les FPGA (field programmable gate array : réseau de portes programmables de terrain) et l'électronique CI grand public.

HDAVO (Option audio vidéo à haute densité) est une option du système de test SoC 3680 comprenant 8 modules de générateurs de formes d'onde arbitraires (AWG) et de numériseurs (DGT). Le taux d'échantillonnage atteint 400 Msps pour chaque AWG et 250 Msps pour chaque DGT. Les avantages des spécifications supérieures, du faible coût et de la multi-fonctionnalité en font une solution adaptée à un grand nombre de tests de signaux mixtes, notamment bande de base standard, vidéo, audio, graphiques, STB et DTV.

Spécialement développé pour le système de test 3680, le kit logiciel CRISPro permet aux utilisateurs d'éditer rapidement et facilement les programmes de test via une interface graphique (GUI). La fonction de tests simultanés prise en charge réduit non seulement la durée des tests mais accélère également la cadence de production.

 

Chroma 3680 

Système de test SoC avancé Chroma 3680

La carte d'E/S numérique PXIe Chroma 33010 assure des fonctions de test automatiques s'appuyant sur l'architecture PXIe pour répondre à la demande à venir de tests PXI. Destinée aux canaux CI de dimensions réduites et aux fonctions de test de plus en plus complexes, en particulier sur les CI IdO et électronique automobile, l'architecture PXI/PXIe dans les tests pour semi-conducteurs procure des avantages certains dans la diversité et la flexibilité d'une application, notamment les tests de microcontrôleurs, MEMS, CI RF et PMIC. Il est également possible de la porter sur Chroma 3380D (256 canaux), Chroma 3380P (512 canaux) et Chroma 3380 (1280 canaux) pour la production en série du fait de leur compatibilité logicielle et matérielle élevée.

STE et PXI

Le système de test CC/RF à fibre optique Chroma 3200L-6, principalement utilisé pour détecter le courant CC et les radiofréquences d'un analyseur de spectre optique (OSA) en boîtier, dispose de fonctions de nettoyage et de test automatisés de fibre optique, de positionnement visuel et de permutation automatique de fibre optique, de positionnement visuel et de contrôle de contact de sonde. Sa répétabilité de sondage atteint ± 40 um. Grâce à une station unique pour les expérimentations d'ingénierie et à une ligne complète pour la production en série, le système de test accroît la flexibilité de mise en œuvre et réduit significativement le coût de main-d'œuvre et de perte des tests.

 

Système de test CC/RF à fibre optique Chroma 3200L-6

L'équipement de test pour semi-conducteurs Chroma s'intégrant avec le testeur ATE RF MP5800 peut couvrir une bande de test de 6 GHz et fournir un port 4/8 RF avec une bande passante de 120 MHz. Son application comprend le Wi-Fi, le Bluetooth, le GNSS/NB-IoT/LoRa, d'autres CI de connectivité IdO et des composants RF (PA/LNA/Convertisseur, etc.) pour répondre aux exigences d'une solution de test totale RF/ATE numérique (CP/FT/SLT).

MP 5800RF  

                                                        Testeur ATE RF MP5800

Le SEMICON 2018 Chine se déroulera du 14 au 16 mars et Chroma ATE Inc. présentera la nouvelle solution de test de semi-conducteurs au Shanghai New International Expo Center (SNIEC) (Stand n°3165). Vous êtes invités à découvrir les nouvelles tendances en matière de tests et de mesures.