Chroma ATE Inc.

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Chroma présente sa nouvelle solution de test pour semi-conducteurs
2017/04/28

Chroma ATE Inc., fournisseur mondial de premier plan d'instruments de mesure et de test de précision, de systèmes de test automatisés, de systèmes de fabrication intelligents ainsi que de solutions de test et d'automatisation clés en main, a récemment présenté la nouvelle solution de test pour semi-conducteurs destinée au marché CI IdO.

Nouvellement développée cette année, la carte d'E/S numérique PXIe Chroma 33010 assure des fonctions de test automatiques s'appuyant sur l'architecture PXIe pour répondre brillamment aux exigences élevées des tests PXI. Destinée aux canaux CI de dimensions réduites et aux fonctions de test de plus en plus complexes, en particulier sur les CI IdO et électronique automobile, l'architecture PXI/PXIe dans les tests pour semi-conducteurs procure des avantages incomparables en diversité et flexibilité, comprenant les tests de microcontrôleurs, MEMS, CI RF et PMIC. Elle peut également être portée sur Chroma 3380D (256 canaux) et Chroma 3380P (512 canaux) pour la production en série du fait de leurs grandes similitudes logicielles et matérielles.

Carte d'E/S numérique PXIe Chroma 33010
▲ Carte d'E/S numérique PXIe Chroma 33010

Le gestionnaire SLT tri-température Chroma 3260 dispose de la fonction DTC (Contrôle dynamique de la température) grâce à la technologie Nitro TEC, pouvant prendre en charge une excellente plage de température de fonctionnement comprise entre -40°C et 125°C avec une précision de +/- 1°C. Il convient à des tests en parallèle sur plusieurs cartes de modules, tandis que les prises de test intégrées peuvent accueillir différents types de packages (QFP, TQFP, μBGA, PGA et CSP). Le Chroma 3260 (Tri-Temp.) peut changer aussi rapidement de kit que différents DUT (Appareils sous test) pour réduire significativement les temps d'arrêt et améliorer l'efficacité. Les applications comprennent les composants de CI pour l'Internet des véhicules (IoV) et le secteur du Cloud Computing.


▲ Gestionnaire SLT tri-température Chroma 3260

Le gestionnaire de tests sur site unique de table Chroma 3111 est conçu pour tester le fonctionnement des systèmes en particulier pendant la phase expérimentale d'ingénierie. Il bénéficie d'une capacité de test des bornes électriques pour prendre en charge différentes tailles de plaquettes encapsulées, allant de 5x5 mm à 45x45 mm. Le Chroma 3111 sera le meilleur choix pour réduire efficacement les délais et les coûts pendant les tests d'ingénierie en raison de sa petite taille (espace de 60 cm2).


▲ Gestionnaire de tests sur site unique Chroma 3111 

La solution de test pour semi-conducteurs de Chroma procure également un grand nombre de suites logicielles pour différentes applications de test.